供应牛津镀层测厚仪探测器,电镀层膜厚测试仪,金属镀层膜厚仪,镀金层测厚仪
¥1500.00
供应牛津面铜测厚仪面铜标准片,面铜测厚仪,孔铜测厚仪,铜厚度测量仪
¥1000.00
供应牛津涂层测厚仪ECP探头,漆膜测厚仪,油漆测厚仪,牛津探头
¥1500.00
供应镀层测厚仪MAXXI系列,电镀膜厚测试仪,X-Ray测厚仪,镀金测厚仪
¥120000.00
SRP-T1 面铜探针: 便携式测厚仪CMI165专用。
SRP-T1 面铜探头:
便携式测厚仪CMI165专用。
SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头
--利用微电阻原理和***的温度补偿功能通过四针式SRP-T1探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准
--厚度测量范围：化学铜：0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
电镀铜：2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)
--仪器再现性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
--强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能
--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择
--仪器无需特殊规格标准片，可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm
--仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）
--测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件
--仪器为工厂预校准
--客户可根据不同应用灵活设置仪器
--用户可选择固定或连续测量模式
--仪器使用普通AA电池供电
在线问
