取消

飞行时间二次离子质谱仪 KORE SurfaceSeer S(TOF-SIMS)

参数
  • 是否进口
  • 英国原产国/地区
  • 加工定制
上海 闵行区 90天内发货 100台
上海耀他科技有限公司
进入店铺 在线咨询
产品详情

Kore SurfaceSeer STOF-SIMS (飞行时间二次离子质谱仪) 系 列中,是一款高性价比且经久耐用 的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择,适用于研发和工业 质量控制应用。




Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束(可选惰 性气体Ar+),该离子束是脉冲式的,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中,该离子枪的脉冲时间仅为60ns,因此,主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限,需要在一个点上进行几分钟的分析,在这个点上,表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低,这款TOF分析仪还是非常高效的,这就说明了它具有较高的二次离子数据速率(即使在离子产率相对较低 的聚合物上,也通常为5000 c/s)。


SurfaceSeer S 仪器特点:

  • 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤,实现样品“无损”分析;

  • 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器;

  • 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ;

  • 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析;

  • 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM);

  • 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。


SurfaceSeer S 应用领域:

  • 表面化学

  • 黏附力

  • 分层

  • 印刷适性

  • 表面改性

  • 等离子体处理

  • 痕量分析(表面ppm)

  • 催化剂

  • 同位素分析

  • 表面污染


为您推荐
产品分类 更多 >
供应商网> 专用仪器仪表> 其他专用仪器仪表> 飞行时间二次离子质谱仪 KORE SurfaceSeer S(TOF-SIMS)
    在线问
    产品参数
    1/1
    面议 在线咨询
    进店 电话 在线咨询 获取最低报价
    飞行时间二次离子质谱仪 KORE SurfaceSeer S(TOF-SIMS)
    ¥面议
    • 采购产品
    • 采购数量
    • 联系电话
    《服务条款》 并允许推荐更多供应商为您服务
    请阅读并同意《服务条款》