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GNR，TX2000全反射X荧光光谱仪，TXRF与EDXRF的有机结合体
分析原理
TX2000 原理是基于X 荧光能谱法，但与 X 射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级 X 光束以 45°角轰击样品，而TXRF 采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级 X 光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声”。
仅需将一小滴样品（5-100uL 采用合适溶剂溶解的被测物质）放置在二氧化硅载体上，溶剂蒸发后形成一层厚度为几纳米的残留物，此时可以程度上消除来自于样品和样品基体产生的散射。由于残留物薄膜厚度极小，在还未产生基体影响时已经完成了检测工作，结合高功率 / 高分辨仪器，通过内标监控即可轻松完成多元素同时定量分析的工作。
仪器特点
将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上
配备创新光学编码器的步进电机，******角度测量
采用双靶 (Mo/W) X 射线管，软件控制自动切换原始光束和轫致辐射
高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器
极小的样品与检测器间距，***极低背景干扰和优异的灵敏度
超出 50 余种元素的检出限低于 10pg
氦气附件可以改善轻元素的检出限
能谱仪采用全自动设计，操作者可以通过计算机控制全反射条件获得不同的能量源，控制单色器步进电机和射线管的开关
应用举例
环境分析： 水、灰尘、沉积物、大气悬浮物
制药分析： 生物体液和组织样品中的有害元素
法医学： 微小证据分析
化学纯度分析： 酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂
油品分析： 原油、轻质油、燃料油
染料分析： 墨水、油漆、粉末半导体
材料分析： 挥发相分解
核材料工业： 放射性元素分析
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