Tektronix泰克DSA8300示波器
产品信息:
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持 光通信 标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 400G PAM4 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
特点:
电气模块信号测量精度:
***系统抖动(<100 fs,典型值)
> 70GHz
在所有带宽上实现业内较低的系统噪声:
值 600 µV(典型值 450 µV)@ 60 GHz
值 380 µV(典型值 280 µV)@ 30 GHz
单台主机内最多 6 个通道同时采集<100 fs 抖动。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。
优异的采集吞吐量,采样率 300 kS/s。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。
独立的已校准通道相差校正。
优势:
<100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 5="" 28="" 70="" ghz="">45 Gb/秒的 3 阶谐波)。
较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。
通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
远程采样头较大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。
双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度。