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供应单结晶体管测试仪

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北京励芯泰思特测试技术有限公司
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BC3193半导体分立器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象:二极管,三极管,可控硅,场效应管,(IGBT)绝缘栅双极三极管,达林顿矩阵,单结晶体管,光敏二极管,光敏三极管,光电耦合器,固态继电器等DC/DC模块参数测试仪,MOS测试仪,三极管开关时间测试仪。

 

二极管及整流桥:VRIRVFVZHVZ、动态阻抗。
  三极管:BVCBOBVCEOBVCERBVCESBVEBOICBOICEOICERICESIEBOVCESVBESHFE
  可控硅:IGTIHILVGTVONBVAKFBVAKRBVAKOIAKFIAKR
  场效应管:BVDSSBVDSRBVDSOBVDGOBVGSOBVGSSIDSSIDSOIGDOIGSOIDSRVGSVDSVTHgm
  达林顿管:VCESATICEO.R.SIEBOHFEVBESATBVCEO. IGBTBVCGRBVGESTGESVCESTVGETH
  光电耦合器:VFIRBVRBVCEOICEOCTRVCESAT

* 测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。

* 测试原理符合相应的***,国家军用标准和行业标准。
* 采用脉冲法测试功率参数,符合国家军用标准并***抑制测试温生。
* 采用Kelvin测试原理,排除线路电阻及接触电压,使大电流的参数测试更准。

 

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