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供应X荧光光谱仪 EDX600B

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  • 天瑞品牌
  • EDX600B型号
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上海盖文实业发展有限公司
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X荧光光谱仪
型号:EDX600B
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仪器介绍   

       集天瑞多年贵金属检测技术的经验,EDX600B使用高效而实用的正比计数盒探测器,以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件控制移动平台和激光定位装置,使样品上测试点的选择更方便和准确;功能齐全的测试软件、友好的操作界面,使测试工作轻松完成。 

性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测 
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
一次可同时分析24个元素
针对不同样品可自动切换准直器
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序

技术指标

元素分析范围:从钾(K)到铀(U) 
测量对象:固体、液体、粉末 
测量精度:0.05%
分析检出限:可达1ppm
分析含量:一般为1ppm-99.9% 
多次测量重复性:0.1% 
长期工作稳定性:0.1% 
温度适应范围:15℃-30℃ 
测量湿度:≤70% 
测量时间:60-300秒 
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

标准配置

单样品腔 
二维软件控制自动移动样品平台
激光定位装置。
准直器(8个)自动切换装置(范围0.1mm-0.8mm)
正比计数盒探测器。 
信号检测电子电路。 
高低压电源。 
X光管。 
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测 
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业
尤其是黄金及黄金饰品的含量检测

 

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