X荧光光谱仪 EDX1800E简介
测试原理：X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射 X 射线（一次 X射线），激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次 X射线，并且不同的元素所放射出的二次 X射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次 X射线的能量，然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
仪器介绍： EDX1800E是天瑞仪器研发的第六代产品（***代是 EDX3000B，***代是 EDX3000C, 第三代是 EDX2800，第四代是 EDX1800，第五代是 EDX1800B），仪器采用***下照式：可满足各种形状样品的测试需求；高分辨率探测器：提高分析的准确性；新款的高压电源和 X光管：性能可靠，高达100W 的功率实现更高的测试效率。
仪器组成：主机 EDX1800E，ROHS 分析软件，标准品一套，电脑一套，打印机一台。
技术参数
元素分析范围：硫（S）~铀（U）
分析检出限：1ppm
分析含量：ppm-99.***
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
能量分辨率：***可达125eV
样品腔尺寸：460mm*325mm*90mm
仪器尺寸：550mm*420mm*330mm
仪器重量：45KG
