仪器介绍
天瑞公司92年开始做X荧光光谱仪,在质量管理方面有完善的质量管理体系,在来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关,确保产品的性能和质量精优。天瑞仪器在检测精度、检测功能、操作便捷性等方面一直保持国内。
Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的,性价比高的金属电镀层厚度检测仪。
X-ray膜厚仪Thick800A
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:
1、光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005
3、库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005
测量标准
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of me