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F50系列 自动化薄膜厚度绘图系统 可快速获取样品膜厚分布图

参数
  • 测厚产品特性
  • 是否进口
  • 美国原产国/地区
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武汉迈可诺科技有限公司 2年
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自动化薄膜厚度绘图系统

依靠F50***的光谱测量系统,可以非常简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-日极坐标移动平台可以非常快速地定位所需测试的点并且实时获得测试厚度,大约每秒能测试两点。F50系统配置高精度长寿命的移动平台,确保实现上百万次的测量。

系统中预设了许多极坐标形、矩形和线性的图形模式,且支持用户自定义测量点位图。只需掌握基本的电脑技巧便可在几分钟内建立自己需要的测量点位图。


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