三维光学表面轮廓仪
原理:
利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量jing度决定于测量光程差的jing度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量jing度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。
特征:
l 任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程;
l 高分辨率摄像头;
较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
的自动校准能力;
数据处理速度提高几十倍;
分析速度提高十倍;
无以伦比的大量数据无缝拼接能力;
优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程;
独特的可视化操作工具;
可自行设置数据输出的界面;
部分选择项:
可选300mm可编程控制带编码器自动样品台
可选操纵手柄
可选高速聚焦;
ContourGT-K 3D光学显微镜(三维光学轮廓仪)
在一台台式仪器中结合了***分析性能,便利性和价格可承受性
ContourGT-K 3D光学显微镜是表面轮廓仪功能和价值的标准。该系统具有各种2D / 3D测量,高分辨率成像和用户友好的界面,该系统以紧凑的封装和紧凑的占地面积提供了***的计量功能。
ContourGT-K是满足基本计量和成像需求的实验室的理想测量系统。
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ContourGT K工具图片v2
轮廓GT-K
质量与可靠性
ContourGT-K是非接触表面表征和成像领域超过三十年专有光学创新和***地位的结晶。 ContourGT系列基于Wyko®技术构建,具有强大的算法和结构设计,使布鲁克成为可靠测量的。发货前,每个单元都经过我们美国工厂的严格认证。除其他规格外,还对它们进行了测试,使其均方根(RMS)重现性<0.03nm或更高,步长1 sigma重现性<0.1%。
ContourGT K USB插入2
ContourGT K分析齿轮齿
灵活的登台和固定,以适合您的应用
ContourGT-K设计为您提供了可根据需要灵活配置显微镜的灵活性。无论是配置为基本配置(手动平台和单个物镜)还是更自动化的设置(机动平台和5位机动物镜转塔),该系统均可提供可重复的结果。物镜和变焦镜头的各种组合使您可以选择并优先考虑对手头研究更重要的内容,包括测量视野,横向分辨率或表面不透明度。
高度直观的用户界面,具有***的分析功能
布鲁克屡获殊荣的Vision64®操作和分析软件提供了***功能,最简化的图形用户界面,将智能体系结构与直观的可视工作流以及广泛的用户定义的自动化功能相结合,可进行快速,全面的数据收集和分析。
提供***面的表面测量与成像技术
性能***、操作简便的桌上型三维光学显微镜
ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准,这套测量系统拥有工业***的测量性能和灵活性,采用白光干涉技术,超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,具有***的垂直分辨率和测量重复性。
凭借其独特的直观用户界面和功能***的自动化检测、分析功能,方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像,广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域,满足各种表面测量的实际需求。