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美国Bruker GT-K/GT-X 系列 三维光学轮廓仪 分辨率0.1nm

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  • 美国Bruker品牌
  • GT-K/GT-X型号
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北京亚科晨旭科技有限公司
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特征:

◆ ***的垂直分辨率,大的测量性能

0.5~200倍的放大倍率

任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程

高分辨率摄像头

 

◆  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性

较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力

的自动校准能力

◆  多核处理器下运行的Vision64™ 软件,大大提高三维表面测量和分析速度

数据处理速度提高几十倍

分析速度提高十倍

无以伦比的大量数据无缝拼接能力

 

◆  高度直观的用户界面,拥有***的实用性,操作简便和分析功能强大

优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程

独特的可视化操作工具

可自行设置数据输出的界面

 

部分选择项:

可编程控制150mm(6in)自动样品台

可选操纵手柄

可选高速聚焦;

可选缝合功能;

可选XY自动移动功能

参数:

XY样品台:              150mm(6in)手动样品,样品台±6°倾斜调整

Z方向聚焦:             计算机自动控制聚焦

     光学组件模块:           最***双LED照明电源;自动视场目镜转台;自动滤波片切换

物镜:                   可共焦物镜:2.5X,5X,10X,20X,50X;100X;

长焦物镜:1X,1.5X,2X,5X,10X;

     物镜搭台:               单物镜适配器或四位置自动塔台

     处理器:                 多核,Windows® 7.0

     系统软件:               Vision64 操作和分析软件;

     可选分析软件:         MATLAB®, SureVision, TCP/IP Control, ThickFilm, Annular, Optical

其他自动化:             标准自动光强设定;标准摄像头自动聚焦

校准:                   手动,使用可追溯标准样品;

Z方向扫描范围          0.1nm10mm

扫描速度           28.1µm/sec

样品重量           4.5kg (10lbs)

垂直方向分辨率         <0.1nm  

RMS重复性              0.01nm

反射率                 <0.01 to ***

台阶高度测量:           不确定度:0.75%;

                              重复性:<0.08% 1σ


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