- 商品
- 详情
- 否是否进口
- 三维光学轮廓仪产地
- 美国Bruker品牌
ContourGT-K 3D光学显微镜（三维光学轮廓仪）
在一台台式仪器中结合了***分析性能，便利性和价格可承受性
ContourGT-K 3D光学显微镜是表面轮廓仪功能和价值的标准。该系统具有各种2D / 3D测量，高分辨率成像和用户友好的界面，该系统以紧凑的封装和紧凑的占地面积提供了***的计量功能。
ContourGT-K是满足基本计量和成像需求的实验室的理想测量系统。
联系我们|下载手册
ContourGT K工具图片v2
轮廓GT-K
质量与可靠性
ContourGT-K是非接触表面表征和成像领域超过三十年专有光学创新和。 ContourGT系列基于Wyko®技术构建，具有强大的算法和结构设计，使布鲁克成为可靠测量的。发货前，每个单元都经过我们美国工厂的严格认证。除其他规格外，还对它们进行了测试，使其均方根（RMS）重现性<0.03nm或更高，步长1 sigma重现性<0.1％。
ContourGT K USB插入2
ContourGT K分析齿轮齿
灵活的登台和固定，以适合您的应用
ContourGT-K设计为您提供了可根据需要灵活配置显微镜的灵活性。无论是配置为基本配置（手动平台和单个物镜）还是更自动化的设置（机动平台和5位机动物镜转塔），该系统均可提供可重复的结果。物镜和变焦镜头的各种组合使您可以选择并优先考虑对手头研究更重要的内容，包括测量视野，横向分辨率或表面不透明度。
高度直观的用户界面，具有分析功能
布鲁克屡获殊荣的Vision64®操作和分析软件提供了***功能，简化的图形用户界面，将智能体系结构与直观的可视工作流以及广泛的用户定义的自动化功能相结合，可进行快速，全面的数据收集和分析。
提供***面的表面测量与成像技术
性能***、操作简便的桌上型三维光学显微镜
ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准，这套测量系统拥有工业的测量性能和灵活性，采用白光干涉技术，超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，具有***的垂直分辨率和测量重复性。
凭借其独特的直观用户界面和功能***的自动化检测、分析功能，方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像，广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域，满足各种表面测量的实际需求。
特征：
◆ ***的垂直分辨率，大的测量性能；
l 0.5~200倍的放大倍率；
l 任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；
l 高分辨率摄像头；
◆ 测量硬件的独特设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；
l 较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
l 的自动校准能力；
◆ 多核处理器下运行的Vision64™ 软件，大大提高三维表面测量和分析速度
l 数据处理速度提高几十倍；
l 分析速度提高十倍；
l 无以伦比的大量数据无缝拼接能力；
◆ 高度直观的用户界面，拥有***的实用性，操作简便和分析功能强大
l 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；
l 独特的可视化操作工具；
l 可自行设置数据输出的界面；
部分选择项：
可编程控制150mm(6in)自动样品台
可选操纵手柄
可选高速聚焦；
可选缝合功能；
可选XY自动移动功能
参数：
XY样品台： 150mm（6in）手动样品，样品台±6°倾斜调整
Z方向聚焦： 计算机自动控制聚焦
光学组件模块： 最***双LED照明电源；自动视场目镜转台；自动滤波片切换；
物镜： 可共焦物镜：2.5X，5X，10X，20X，50X；100X；
长焦物镜：1X，1.5X，2X，5X，10X；
物镜搭台： 单物镜适配器或四位置自动塔台；
处理器： 多核，Windows® 7.0；
系统软件： Vision64 操作和分析软件；
可选分析软件： MATLAB®, SureVision, TCP/IP Control, ThickFilm, Annular, Optical
其他自动化： 标准自动光强设定；标准摄像头自动聚焦
校准： 手动，使用可追溯标准样品；
Z方向扫描范围： 0.1nm至10mm
扫描速度： 28.1µm/sec
样品重量： 4.5kg (10lbs)
垂直方向分辨率： <0.1nm
RMS重复性： 0.01nm
反射率： <0.01 to ***
台阶高度测量： 不确定度：0.75%；
重复性：<0.08% 1σ
在线问
- 否
- 三维光学轮廓仪
- 美国Bruker
- GT-K/GT-X
- 分辨率0.1nm
- 光学测量
- 用于较大样品表面形貌、粗糙度、三维轮廓的快速测试
- N
- 是
- N
