半导体材料四探针方阻测试仪

面议

参数

自动测量产品特性
否是否进口
宁波产地

发货地浙江宁波不限供货总量126000台

宁波瑞柯微智能科技有限公司: 进入店铺在线咨询

石墨碳素碳棒材料电阻率测试仪面议

FT-8100系列四探针法粉末电导率测试仪(手动型) 面议

锂离子电池负极材料压实密度仪的测试方法面议

片剂颗粒可压性测试仪面议

粉末流动性测试仪工作原理面议

四探针测试仪原理面议

产品详情

半导体材料四探针方阻测试仪

FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪详情介绍

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

适用范围Widely used：

1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，

4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，

功能描述Description：

1. 四探针单电测量方法

2. 液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.

3. 集成电路系统、恒流输出.

4. 选配：PC软件进行数据管理和处理.

5. 提供中文或英文两种语言操作界面选择

半导体材料四探针方阻测试仪参照标准：

1.硅片电阻率测量的***（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

型号及参数Models and technical parameters

规格型model	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方块电阻范围Sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.电阻率范围Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
测试电流范围 Test current	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度 Current accura	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.电阻精度Resistance	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数display	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.测试方式test mode	普通单电测量general single electrical measurement
8.工作电源power	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差errors	≤4%（标准样片结果 Standard Sample results）
10.选购功能choose to buy	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.测试探头Test probe	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.