大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
液晶层间隙量测设备 RETS series
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到***0代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
特 点
● 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
● 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到***0代的大型基板
● 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
测量项目
● 封入cell gap
● twist角 *
● rubbing角 *
● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
● 空cell gap *
● 相位差（复折射相位差）的波长分散 *
● 光学轴 *
● 椭圆率/方位角 *
● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光谱/色度*
*选配功能追加
测量对象
● 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光学材料
- 其他（相位差、椭圆、偏光膜、液晶材料）
