大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
分光配光测量系统 GP series
产品信息 特殊长度 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总...
特殊长度
● 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量
● 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量
● 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等。
● 采用新型检测器，可进行宽动态范围测量与 IESNA LM-75 兼容
● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C
● 支持紫外和近红外区域的配光测量
● 可提供发光强度标准灯泡（JCSS）
评价项目
发光强度角分布（配光）
光谱辐射通量（光谱）
饱和度坐标 (u&＃39;, v&＃39;) [JIS Z8781-5]
饱和度坐标 (x, y) [JIS Z 8724]
显色指数（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]
相关色温和 Duv [JIS Z 8725]
主波长（Dominant）和刺激纯度（Purity）[JIS Z8781-3]
IES（符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5）文件
* 1 IES分析软件[大冢电子制造]也可以读取和分析其他公司的光分布测量设备计算出的IES文件。
