二极管,晶闸管浪涌能力测试系统
¥188.00
二极管正向浪涌测试设备
¥10.00
BWD-CU-596ST 发光二极管测试系统
BWD-1000@光谱测试系统
1、光强动态范围 0.1-110uW/cm2;
2、光斑面积: 10*10mm;
3、光谱波长范围:300-1100nm;
4、光谱量测精度≤0.01%;
BWD-1500@ID-VG curve/R-V curve
1、电流≥100mA;
2、电压≥100V;
3、SMU电流测量精度≤15fA;
4、SMU量测单元≥4;
BWD-8pin载物台
4-12"卡盘,采用中心吸附孔和多圈吸附环固定样品,均独立控制,中心吸附孔最小可以选择250微米
· 卡盘X/Y轴无间隙移动,大手柄旋转控制,行程:8英寸×8英寸,移动精度:1um,并带锁紧装置
· 可调节显微镜在 X-Y 平面2"×2" 范围内移动,精度1um;
· 可调节显微镜快速倾仰,便于更换物镜,带自动锁定功能;
· 平台快速升降行程6mm并带自动锁定功能
· 平台上下微调行程25mm,升降精度1um
· 平台可升降调节适合加装探针卡,便于针卡重定位
· U型平台,可同时容纳6个BWD-100探针座同时点测,台体设计有接地接头
· 带有锁定旋钮 Chuck可以附加独立的校准片载台,以符合未来扩展射频量测的需求
· 显微镜环绕立柱旋转式设计,便于快速移动显微镜,显微镜移动范围覆盖样品台
· 卡盘快速抽拉功能,方便放取样品
· 卡盘可做电极引出信号进行双面测试
· 尺寸:850mmW×750mmD×600mmH
· 总重约150KG