X-Strata920、CMI900适用的各种厚度规格标准片
镀层测厚仪X-Strata920工作特点:
- 测量精度高、稳定性好,测量结果***至μin
- 快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果
- 可定性、半定量和定量分析
- 进行贵金属检测,如Au karat评价
- 材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析
- 强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图
- 结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等
- 测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍
- 激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦