大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
线扫描膜厚仪【在线型】
产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取***） 实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
特点
● 采用线扫描方式检测整面薄膜
● 硬件&软件均为创新设计
● 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援
● 实现高精度测量（已获取***）
● 实现高速测量
● 不受偏差影响
● 可对应宽幅样品（TD方向可测量10m）
