大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
小角激光散射仪 PP-1000
PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，实时解析。与SAXS和SANS的装置相比，检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价，解析结晶性薄膜的球晶半径，偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。
产品信息
特点
● 0.33 ~ 45°散射角度的测量，***测试时间10 毫秒
● 检测范围0.1μm ~数十微米
● 可以在专用溶液单元中测量溶液样本
● Hv散射，Vv散射测量可以在软件上轻松切换
用途
高分子材料评价
结晶性胶片
结晶化温度、球晶直径、结晶化速度
配光、光学异方性
聚合物混合
相分离过程和相关距离(分散度)
高分子凝胶
三维架桥结构的大小
树脂
热硬化树脂和UV硬化树脂的硬化速度
粒子物性评价
粒子直径，凝聚速度
原理
